Моделирование СВЧ приборов с помощью программы CST Particle Studio 94666

Паперова книга
94666
Моделирование СВЧ приборов с помощью программы CST Particle Studio - фото 1
810
1 людина
Купити

Все про “Моделирование СВЧ приборов с помощью программы CST Particle Studio”

Від видавця

Книга посвящена моделированию устройств с носителями зарядов. Это электронные лампы, клистроны, магнетроны, лампы бегущей волны. Моделирование и проектирование таких приборов выполняется с помощью современных систем проектирования, в качестве которой выбрана система CST STUDIO SUITE и её утилита CST Particle Studio. Программа разработана основанной в 1992 году компанией CST, которая активно работает в области мультифизических САПР СВЧ.

Книга предназначена для студентов радиотехнических и электронных специальностей, аспирантов и специалистов, занятых в области проектирования электронных СВЧ приборов.

Зміст

Оглавление

Условные обозначения и термины            7

1. Введение   9

2. Обзор задач, решаемых CST Particle Studio     11

2.1. Лампа бегущей волны ЛБВ     13

2.2. Моделирование электронной пушки 17

2.3. Выходной резонатор клистрона         19

2.4. Моделирование двухполостного монотрона            22

2.5. Монитор положения пучка     25

2.6. Моделирование коллектора частиц   27

2.7. Моделирование коллиматора частиц 30

2.8. Моделирование лампы бегущей волны ТГц-диапазона      33

2.9. Моделирование генератора на лампе обратной волны       36

2.10. Плазменные СВЧ источники 39

3. Методы расчета движения частиц, используемые в CST Particle Studio            42

3.1. Программа расчета траекторий движения частиц  (Particle Tracking)     44

3.1.1. Методы расчета в модуле Particle Tracking           45

3.1.2. Основные настройки расчета в модуле Particle Tracking 47

3.2. Программа Wakefield  49

3.2.1. Характеристика программы Wakefield      50

3.2.2. Результаты расчета в модуле Wakefield     51

3.3. Программа PIC              53

3.4. Программа расчета собственных частот Eigenmode           54

3.5. Программа расчета электростатического поля        58

3.6. Программа расчета магнитного поля            61

3.7. Граничные условия в Particle Studio  67

3.8. Источники ошибок в методах расчета распространения частиц в СВЧ структурах     68

4. Источники частиц CST STUDIO SUITE           70

4.1. Типы источников частиц (Particle Sources)  71

4.1.1. Источник частиц на поверхности   71

4.1.2. Точечный источник частиц  73

4.1.3. Круговой источник частиц   74

4.1.4. Импортированный источник частиц          74

4.2. Задание начальных условий эмиссии            74

4.2.1. Равномерное распределение            74

4.2.2. Распределение Максвелла    74

4.2.3. Распределение по углам       74

4.2.4. Эмиссия под углом (Oblique emission)       74

4.3. Модели эмиссии в расчетном модуле Tracking       74

4.3.1. Модель заданного постоянного тока (Fixed emission)     74

4.3.2. Модель ограничения тока пространственным зарядом (Space charge limited emission)        74

4.3.3. Модель термоэмиссии (Thermionic emission)       74

4.3.4. Модель автоэмиссии (Field-induced emission)      74

4.4. Модели эмиссии в расчетном модуле PIC solver     74

4.4.1 Модель Гаусса (Gauss emission)       74

4.4.2 Модель заданного постоянного тока (DC Emission)         74

4.4.3 Модель автоэмиссии (Field Emission)         74

4.4.4 Модель взрывной эмиссии (Explosive Emission)   74

4.5. Экспорт и импорт интерфейса частиц          74

4.5.1. Создание интерфейса частиц в модуле Tracking solver   74

4.5.2. Создание интерфейса частиц в модуле PIC           74

4.5.3. Импорт интерфейса частиц  74

4.6. Вторичная эмиссия (Secondary Emission)     74

4.6.1. Создание материала с вторично эмиссионными свойствами     74

4.6.2. Модель вторичной эмиссии Фурмана (Furman)   74

4.6.3. Модель вторичной эмиссии Вогана (Vaughan)     74

4.6.4. Импорт параметров вторичной эмиссии (Import) 74

5. Моделирование выходного резонатора клистрона     74

5.1. Создание модели выходного резонатора клистрона           74

5.2. Задание источника частиц      74

5.3. Задание начальных и граничных условий     74

5.4. Расчет и анализ полученных результатов     74

6. Моделирование электронно-оптической системы с магнитной фокусировкой    74

6.1. Траекторный анализ в CST Particle Studio    74

6.2. Создание модели электронной пушки          74

6.3. Расчет магнитного поля в МПФС      74

6.4. Расчет и анализ полученных результатов     74

6.5. Расчет контура пучка в электрическом поле            74

6.6. Расчет контура пучка в электрическом и магнитном полях          74

7. Моделирование коллектора  с рекуперацией  74

7.1. Создание модели коллектора  74

7.2. Задание начальных и граничных условий расчета  74

7.3. Расчет траекторий частиц в коллекторе        74

8. Расчет кильваторных полей  в резонаторе ускорителя          74

8.1. Кильватерные методы ускорения частиц      74

8.1.1. Диэлектрические ускорители с кильватерным методом ускорения      74

8.1.2. Лазерно - плазменные ускорители  74

8.2. Создание модели резонатора ускорителя     74

8.3. Описание источника пучка частиц    74

8.4. Задание граничных условий    74

8.5. Задание конечно-элементной сетки  74

8.6. Расчет и анализ полученных результатов     74

9. Расчет мультипакции      74

9.1. Создание модели волноводного ступенчатого фильтра      74

9.2. Задание начальных и граничных условий     74

9.3. Расчет высокочастотного поля в волноводе  74

9.4. Расчет мультипакторного эффекта    74

10. Моделирование лампы бегущей волны          74

10.1. Создание модели ЛБВ           74

10.2. Задание конечно-элементной сетки 74

10.3. Задание начальных и граничных условий   74

10.4. Расчет параметров ЛБВ и анализ результатов.      74

11. Моделирование магнетрона     74

11.1. Создание модели магнетрона           74

11.2. Задание потенциалов и катушек с током    74

11.3. Задание граничных условий  74

11.4. Создание источника частиц  74

11.5. Анализ результатов расчета  74

11.6. Оптимизация структуры магнетрона          74

Заключение   74

12. Моделирование магнетрона с резонаторами 74

12.1. Создание структуры магнетрона      74

12.2. Установки граничных условий и мониторов поля 74

12.3. Мониторы поля в точке         74

12.4. Задание источника частиц и полей для их ускорения      74

12.5. Задание аналитического поля и потенциалов на электродах магнетрона    74

12.6. Результаты расчета     74

12.7. Подстройки для изменения условий генерации магнетрона       74

13. Моделирование разнорезонаторного магнетрона     74

13.1. Создание структуры магнетрона      74

13.2. Задание мониторов поля для просмотра полей      74

13.3. Установки на решение           74

13.4. Задание источника частиц и полей для их ускорения      74

13.5. Установки программы PIC на расчет           74

13.6. Результаты расчета магнетрона        74

13.7. Моделирование работы магнетрона с использованием источников тока       74

13.8. Самосинхронизации двух магнетронов в схеме    74

14. Магнетроны из демонстрационных примеров CST  74

14.1 Моделирование магнетрона с гребенчатой структурой    74

14.2. Моделирование магнетрона для СВЧ-печки          74

15. Порядок расчета магнетрона    74

15.1. Последовательность действий при расчете магнетрона   74

15.2. Расчет и оптимизация «холодной» электродинамической системы магнетрона            74

15.3. Задание эмиссионных параметров, способа питания магнетрона и расчет «горячего» режима  74

Заключение   74

Литература    74

Об авторах:   74

Рецензії

0

Всі характеристики

Товар входить до категорії

  • Самовивіз з відділень поштових операторів від 45 ₴ - 80 ₴
  • Доставка поштовими сервісами - тарифи перевізника